日本SHINYEI粒子傳感監(jiān)測(cè)儀單元潔凈室檢測(cè) AES-FP系列 特點(diǎn)介紹

該監(jiān)測(cè)儀可以在需要清潔度控制的環(huán)境中持續(xù)監(jiān)測(cè)0.3μm（或0.5μm）或更大的顆粒，例如潔凈室、潔凈室、半導(dǎo)體/薄膜/食品制造過程、印刷過程和醫(yī)院設(shè)施。

它支持使用類別值對(duì)懸浮顆粒進(jìn)行可視化，對(duì)于 HACCP 管理也很有用。傳感器單元設(shè)計(jì)緊湊，適合集成到生產(chǎn)設(shè)備等中，并且可以安裝在狹窄的空間內(nèi)。

日本SHINYEI粒子傳感監(jiān)測(cè)儀單元潔凈室檢測(cè) AES-FP系列 規(guī)格參數(shù)

一種可以低價(jià)測(cè)量懸浮顆粒物的監(jiān)測(cè)儀

如果需要監(jiān)控功能，請(qǐng)使用粒子傳感監(jiān)控器“AES-FP系列"。當(dāng)合并到控制系統(tǒng)或測(cè)量更多位置時(shí)，將顆粒傳感器單元“AES-FPS"用作單個(gè)傳感器。

清潔度等級(jí) 1,000 至 100,000通過 4 級(jí) LED 顯示

簡(jiǎn)單的操作性和顯示使清潔管理變得更簡(jiǎn)單、更直觀。

輸出0.3μm（或0.5μm）及數(shù)μm以上的粒子數(shù)（參考值）

通過不僅控制清潔度控制所需的亞微米級(jí)顆粒（*），而且還控制大于幾微米的顆粒，我們可以抑制由于制造過程中的污染而導(dǎo)致的質(zhì)量缺陷的發(fā)生。

(*) 檢測(cè)到的粒徑因型號(hào)而異。請(qǐng)選擇“0.3μm測(cè)量型號(hào)"或“0.5μm測(cè)量型號(hào)"。