日本NPC手動(dòng)型電阻率測(cè)試裝置用于多種材料 sigma-5+ 特點(diǎn)介紹

它可以精確測(cè)量硅片等的電阻率，還有用于太陽(yáng)能電池的硅的便攜式探頭。

這是一款高精度電阻率測(cè)量?jī)x器，采用20多年電阻率測(cè)量相關(guān)的專(zhuān)業(yè)知識(shí)和技術(shù)設(shè)計(jì)和開(kāi)發(fā)。

可以在半導(dǎo)體基板和導(dǎo)電薄膜基板的研發(fā)/檢查過(guò)程或生產(chǎn)線(xiàn)中高精度地確定和評(píng)估薄層電阻值和體積電阻值。

日本NPC手動(dòng)型電阻率測(cè)試裝置用于多種材料 sigma-5+ 規(guī)格參數(shù)

探頭接觸樣品即自動(dòng)開(kāi)始測(cè)量

可通過(guò)JOG旋鈕快速設(shè)定測(cè)量條件

5種測(cè)量范圍探頭可根據(jù)樣品電阻率進(jìn)行更換    

可選配P/N型判定量測(cè)功能

應(yīng)用：硅片樣品， 化合物半導(dǎo)體， 外延層， 擴(kuò)散層， 碳化硅， 薄膜材料， 金屬膜， ITO,  IZO, Low-E玻璃, LED/OLED等材料

這是一款手動(dòng)型測(cè)量?jī)x器，采用四探針?lè)?，可輕松準(zhǔn)確地測(cè)量太陽(yáng)能電池用硅片、液晶基板、金屬薄膜等的方塊電阻或體積電阻。它支持從低電阻到高電阻的各種測(cè)量。

1) 用于硅錠制造→晶圓制造工序（成膜等各工序）的產(chǎn)品檢查　

2) 液晶面板（LCD基板）制造：成膜時(shí)的產(chǎn)品檢查

3) 用于各種導(dǎo)電材料制造過(guò)程中的產(chǎn)品檢驗(yàn)

可以使用本公司另外配置的“4點(diǎn)探頭"進(jìn)行測(cè)量。