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產品分類日本ERD分立半導體高速容量測量測試儀進口 CMS-200無汞!超高速容量測量測試儀?。?/br>MODEL CMS-200系列是一種高速、高精度測量分立半導體(FET、二極管等)電容特性的方法。
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日本ERD分立半導體高速容量測量測試儀進口 CMS-200 特點介紹
無汞!超高速容量測量測試儀??!
MODEL CMS-200系列是一種高速、高精度測量分立半導體(FET、二極管等)電容特性的方法。
進行檢查和判斷。這是一種低成本的測試系統,除了各種校正功能和自動檢查功能之外,還具有增強的自診斷功能。
為了滿足各種需求,除了基本規(guī)格外,還可以使用軟件擴展Windows軟件和內置CPU的功能,硬件方面,我們設計和制造專用的頭盒、夾具等,以適應各種需求。
我們提供一個與處理程序相匹配的系統。迄今為止,我們已向國內外主要半導體制造商出貨了50多臺該系列產品。
日本ERD分立半導體高速容量測量測試儀進口 CMS-200 規(guī)格參數
規(guī)格控制器
軟件
測試裝置控制
校準器
測試程序編輯
測試單元接口
是德科技 E4980A
測試程序
直流測試計劃:200,
排序測試計劃:200
分檔輸出
20Bin
主機鏈接軟件
高速管理系統
控制單元/頭箱
測試站
1 單位
電壓
40V
測試項目
FET:CISS、CRSS、COSS、GISS(Rg)、GRSS、GOSS
DI:C
方面
控制單元:470(W)×150(H)×450(D)mm
頭部單元:70(W)×120(H)×190(D)mm