日本SEISHIN目視檢查顆粒形狀圖像分析裝置 PITA-04 特點介紹

可以在短時間內(nèi)分析數(shù)十萬個顆粒，消除了用顯微鏡檢查的麻煩。

通過目視檢查顆粒圖像，可以直接檢查其是初級顆粒還是聚集顆粒，以及數(shù)值。

相機的分辨率得到了提高，可以更詳細地看到顆粒圖像，并且通過添加新的內(nèi)置超聲波分散裝置，現(xiàn)在可以通過這個單一裝置執(zhí)行從分散到測量的所有操作。

測量時實時顯示顆粒的流動狀態(tài)，并顯示分散狀態(tài)和最大顆粒，讓您一目了然。您不僅可以使用形狀和大小等參數(shù)繪制散點圖，并根據(jù)需要更改參數(shù)來重新繪制散點圖，而且只需移動光標即可顯示該位置的粒子圖像和分析結(jié)果。

PITA-04可以在最佳的顆粒成像環(huán)境中進行顆粒圖像分析處理，包括我們?yōu)楂@得清晰的顆粒圖像而開發(fā)的平面膨脹單元以及采用最新的光學(xué)系統(tǒng)。

日本SEISHIN目視檢查顆粒形狀圖像分析裝置 PITA-04 規(guī)格參數(shù)

超聲波分散罐標準設(shè)備

載液罐內(nèi)置于主體中

測量時間縮短 相機幀速率大約增加一倍

自動清洗功能標準化

與有機溶劑兼容

豐富的軟件輔助功能，即使是初次使用的用戶也能輕松進行測量

 分析項目 個數(shù)粒徑分布、體積/面積當(dāng)量粒徑分布、平均粒徑、最大粒徑、最小粒徑、中值粒徑 

 測量項目 當(dāng)量圓直徑、圓度、長徑比、長軸、短軸、周長、包絡(luò)周長、閉孔曲線面積、不平度 

 顯示項目 顆粒圖像、散點圖、粒度分布圖、裂紋和碎片數(shù)、分散度、測量/分析項目明細表、單顆粒測量結(jié)果