日本katsura高精度測量傾斜、位移等儀器 MF-5550-0002/MF-5570-0002 特點介紹

該設備非常適合評估和檢查智能手機和其他設備中安裝的具有鏡頭移位圖像穩(wěn)定 (OIS) 的相機模塊執(zhí)行器。

通過使用專用目標，可以高精度、高速地同時測量五個項目：目標物體的傾斜（θX、θY）、位移（Z）和位置（X、Y）。

除了使用激光進行自準直儀角度測量之外，還可以同時測量位移（X、Y、Z）和旋轉角度的測量儀器。

隆重推出可實時捕捉一切的創(chuàng)新產品。這些創(chuàng)新產品將您的測量概念提升到一個新的水平。

此外，我們還將介紹一種利用干涉的鏡頭波前像差測量裝置。

日本katsura高精度測量傾斜、位移等儀器 MF-5550-0002/MF-5570-0002 規(guī)格參數

MF-5550-0002

主要規(guī)格

測量范圍

傾斜 (θX-θY)：±60 分鐘（圓形范圍）

位移 (Z)：±1mm

位置 (XY)：±0.5mm

工作距離：80±0.5mm

輸出更新率：10,000次/秒

MF-5570-0002

測量范圍

傾斜 (θX-θY)：±60 分鐘（圓形范圍）

位移 (Z)：±1mm

位置 (XY)：±0.7mm

工作距離：80±0.5mm

輸出更新率：10,000次/秒