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產(chǎn)品展示/ Product display

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日本katsura全視場波前像差測量裝置全自動

日本katsura全視場波前像差測量裝置全自動 AW-1000

這是一種可以全自動測量鏡頭光軸上和離軸波前像差的設(shè)備。

  • 產(chǎn)品型號:AW-1000
  • 廠商性質(zhì):經(jīng)銷商
  • 更新時間:2024-10-12
  • 訪  問  量:163
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詳細介紹

日本katsura全視場波前像差測量裝置全自動 AW-1000 特點介紹


除了使用激光進行自準(zhǔn)直儀角度測量之外,還可以同時測量位移(X、Y、Z)和旋轉(zhuǎn)角度的測量儀器。

隆重推出可實時捕捉一切的創(chuàng)新產(chǎn)品。這些創(chuàng)新產(chǎn)品將您的測量概念提升到一個新的水平。

此外,我們還將介紹一種利用干涉的鏡頭波前像差測量裝置。

這是一種可以全自動測量鏡頭光軸上和離軸波前像差的設(shè)備。

主要測量項目

波前(2D、3D)

點擴散分布

Zernike 系列

MTF(1、所有頻率、2、所有旋轉(zhuǎn)方向、3、通過焦點)


日本katsura全視場波前像差測量裝置全自動 AW-1000 規(guī)格參數(shù)


這是一種可以全自動測量鏡頭光軸上和離軸波前像差的設(shè)備。

非常適合檢查具有圖像穩(wěn)定功能的鏡頭移位和傳感器移位型執(zhí)行器。

通過采用新裝置,將處理部分內(nèi)置于外殼內(nèi)。只需配置電源和通信電纜即可進行測量。

通過使用專用目標(biāo),可以高精度、高速地測量目標(biāo)物體的位置(X、Y)。

波前(2D、3D)

點擴散分布

Zernike 系列

MTF(1、所有頻率、2、所有旋轉(zhuǎn)方向、3、通過焦點)

這是一種可以全自動測量鏡頭光軸上和離軸波前像差的設(shè)備。

波前(2D、3D)

點擴散分布

Zernike 系列

MTF(1、所有頻率、2、所有旋轉(zhuǎn)方向、3、通過焦點)



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