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產(chǎn)品展示/ Product display

您的位置:首頁(yè)  /  產(chǎn)品展示  /  外觀分析設(shè)備  /  測(cè)試儀  /  EC-80日本napson電阻率測(cè)試儀半導(dǎo)體/導(dǎo)電薄膜用

日本napson電阻率測(cè)試儀半導(dǎo)體/導(dǎo)電薄膜用

日本napson電阻率測(cè)試儀半導(dǎo)體/導(dǎo)電薄膜用 EC-80

非接觸渦流法電阻率和方電阻手動(dòng)測(cè)量?jī)x

  • 產(chǎn)品型號(hào):EC-80
  • 廠商性質(zhì):經(jīng)銷商
  • 更新時(shí)間:2024-10-13
  • 訪  問(wèn)  量:298
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詳細(xì)介紹

日本napson電阻率測(cè)試儀半導(dǎo)體/導(dǎo)電薄膜用 EC-80 特點(diǎn)介紹


非接觸渦流法電阻率和方電阻手動(dòng)測(cè)量?jī)x

一種簡(jiǎn)單的測(cè)量裝置,只需將樣品放置在探頭之間即可進(jìn)行測(cè)量。

在電阻率和方塊電阻測(cè)量模式之間輕松切換

使用 JOG 旋鈕輕松設(shè)置測(cè)量條件

測(cè)量目標(biāo)

半導(dǎo)體能電池材料相關(guān)(硅、多晶硅、SiC等)

新材料/功能材料相關(guān)(碳納米管、DLC、石墨烯、銀納米線等)

導(dǎo)電薄膜相關(guān)(金屬、ITO等)

化合物半導(dǎo)體相關(guān)(GaAs Epi、GaN Epi、InP、Ga等)


日本napson電阻率測(cè)試儀半導(dǎo)體/導(dǎo)電薄膜用 EC-80 規(guī)格參數(shù)


非接觸渦流法電阻率和方電阻手動(dòng)測(cè)量?jī)x

一種簡(jiǎn)單的測(cè)量裝置,只需將樣品放置在探頭之間即可進(jìn)行測(cè)量。

在電阻率和方塊電阻測(cè)量模式之間輕松切換

使用 JOG 旋鈕輕松設(shè)置測(cè)量條件

測(cè)量目標(biāo)

半導(dǎo)體能電池材料相關(guān)(硅、多晶硅、SiC等)

新材料/功能材料相關(guān)(碳納米管、DLC、石墨烯、銀納米線等)

導(dǎo)電薄膜相關(guān)(金屬、ITO等)

化合物半導(dǎo)體相關(guān)(GaAs Epi、GaN Epi、InP、Ga等)

非接觸渦流法電阻率和方電阻手動(dòng)測(cè)量?jī)x

一種簡(jiǎn)單的測(cè)量裝置,只需將樣品放置在探頭之間即可進(jìn)行測(cè)量。

在電阻率和方塊電阻測(cè)量模式之間輕松切換



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