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日本HEIDON應(yīng)變測(cè)試儀明暗視野觀察檢查裝置 HEiDON/新東科學(xué) TYPE 25W/25WS TYPE:25W是采用正交尼科耳法的變形檢查裝置，擅長(zhǎng)觀察塑料成型品的流動(dòng)狀態(tài)， 采用光偏轉(zhuǎn)，照度高、視野寬，易于使用。采用變頻圓形熒光燈，閃爍少，不傷眼，長(zhǎng)時(shí)間檢查也可放心使用。有效視場(chǎng)直徑達(dá)280mm，可以檢查大型標(biāo)本或同時(shí)觀察多種類(lèi)型的標(biāo)本，便于比較和檢查。檢偏器（上偏光板：檢偏器）可旋轉(zhuǎn)，

日本HEIDON應(yīng)變測(cè)試儀光偏轉(zhuǎn)變形檢查裝置 HEiDON/新東科學(xué) TYPE 25W/25WS TYPE:25W是采用正交尼科耳法的變形檢查裝置，擅長(zhǎng)觀察塑料成型品的流動(dòng)狀態(tài)， 采用光偏轉(zhuǎn)，照度高、視野寬，易于使用。采用變頻圓形熒光燈，閃爍少，不傷眼，長(zhǎng)時(shí)間檢查也可放心使用。有效視場(chǎng)直徑達(dá)280mm，可以檢查大型標(biāo)本或同時(shí)觀察多種類(lèi)型的標(biāo)本，便于比較和檢查。檢偏器（上偏光板：檢偏器）可旋轉(zhuǎn)，

日本HEIDON摩擦磨損試驗(yàn)機(jī)高精度測(cè)試測(cè)量?jī)x HEiDON/新東科學(xué) TYPE 40 摩擦磨損試驗(yàn)機(jī)新標(biāo)準(zhǔn)模型 Tribogear新一代標(biāo)準(zhǔn)模型誕生， 包括測(cè)量時(shí)可覆蓋的上拉式亞克力蓋和新開(kāi)發(fā)的正交平衡臂系統(tǒng)。 標(biāo)準(zhǔn)配置Y方向載物臺(tái)，使測(cè)試更容易。 使用 Tribogear TYPE40 舒適地執(zhí)行摩擦和磨損測(cè)試，它更易于使用且更準(zhǔn)確。

日本HEIDON表面特性測(cè)量機(jī)評(píng)估涂層附著力 HEiDON/新東科學(xué) TYPE 22L/22H 使用兩個(gè)脈沖電機(jī)同步移動(dòng)測(cè)試平臺(tái)和連續(xù)重量導(dǎo)軌來(lái)評(píng)估涂層的附著力。 連續(xù)負(fù)載重量在刮針?biāo)降谋凵蠞L動(dòng)，使得刮針隨著樣本移動(dòng)成比例地增加垂直負(fù)載。 此外，刮擦針安裝部分內(nèi)置有檢測(cè)阻力的負(fù)載傳感器。可以直接檢測(cè)低負(fù)荷區(qū)域的摩擦阻力、耐刮擦性、耐剝離性的微小變化。

日本HEIDON便攜式摩擦磨損測(cè)試儀測(cè)量設(shè)備 HEiDON/新東科學(xué) TYPE 94i-II 任何人，任何地方。 Muse TYPE:94i-II 是一款便攜式測(cè)量設(shè)備，任何人都可以輕松測(cè)量物體之間的靜摩擦系數(shù)。 傳統(tǒng)上，靜摩擦是使用傾斜法和應(yīng)變儀來(lái)測(cè)量的，但由于這些方法是在實(shí)驗(yàn)室等有限的空間內(nèi)使用，因此在現(xiàn)場(chǎng)的可操作性方面存在問(wèn)題。

日本maruto-group軟巖貫入儀工地勘察測(cè)試儀 SH-70 具有介于兩者之間的性質(zhì)的“軟巖”地面進(jìn)行調(diào)查土壤和巖石，在不同地點(diǎn)的施工過(guò)程中發(fā)生了很多事情。 在針對(duì)此類(lèi)地面的施工中，存在許多軟巖都有的問(wèn)題，無(wú)法使用針對(duì)土壤和傳統(tǒng)硬巖獲得的知識(shí)和方法來(lái)解決。 該測(cè)試儀非常適合在軟巖地面的建筑工地進(jìn)行控制測(cè)試。

日本nisshooptical深度高度測(cè)量機(jī)鹵素光源 AFM-30 這是一種新型深度和高度測(cè)量裝置，結(jié)合了使用光切割的狹縫圖像觀察和使用聚光圖像的AF（自動(dòng)對(duì)焦）跟蹤。 連續(xù)跟蹤自動(dòng)對(duì)焦驅(qū)動(dòng)可實(shí)現(xiàn)快速、易于使用的測(cè)量，并具有高重復(fù)性。 由于該方法在觀察狹縫圖像投影的臺(tái)階形狀的同時(shí)進(jìn)行測(cè)量，因此可以實(shí)時(shí)識(shí)別測(cè)量屏幕上的高度，從而輕松確定需要測(cè)量的區(qū)域。

日本nisshooptical微米深度高度測(cè)量裝置 AFM-30 這是一種新型深度和高度測(cè)量裝置，結(jié)合了使用光切割的狹縫圖像觀察和使用聚光圖像的AF（自動(dòng)對(duì)焦）跟蹤。 連續(xù)跟蹤自動(dòng)對(duì)焦驅(qū)動(dòng)可實(shí)現(xiàn)快速、易于使用的測(cè)量，并具有高重復(fù)性。 由于該方法在觀察狹縫圖像投影的臺(tái)階形狀的同時(shí)進(jìn)行測(cè)量，因此可以實(shí)時(shí)識(shí)別測(cè)量屏幕上的高度，從而輕松確定需要測(cè)量的區(qū)域。