PRODUCT CLASSIFICATION
產(chǎn)品分類產(chǎn)品展示/ Product display
日本mitaka非接觸三維輪廓高精度測量裝置 MLP系列MLP-3 專門從事傳統(tǒng)坐標(biāo)測量機(jī)、投影儀和激光顯微鏡無法實(shí)現(xiàn)的復(fù)雜測量。點(diǎn)自動(dòng)對焦探頭和每個(gè)軸的控制(包括旋轉(zhuǎn))解決了困擾測量人員的問題。
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日本mitaka非接觸三維輪廓高精度測量裝置 MLP系列 特點(diǎn)介紹
MLP-3 專門從事傳統(tǒng)坐標(biāo)測量機(jī)、投影儀和激光顯微鏡無法實(shí)現(xiàn)的復(fù)雜測量。點(diǎn)自動(dòng)對焦探頭和每個(gè)軸的控制(包括旋轉(zhuǎn))解決了困擾測量人員的問題。
不受表面顏色/反射率影響的高精度測量
可以直接測量從表面反射率僅為 0.5% 的鍍膜玻璃到反射率達(dá)到 90% 或更高的鏡面。
從各個(gè)方向都可以接近
根據(jù)工件從最佳方向接近,高精度定量測量截面和三維形狀
可觀察測量點(diǎn)
內(nèi)置攝像頭可以讓您持續(xù)觀察測量點(diǎn)處的激光光斑和工件表面,從而可以準(zhǔn)確掌握測量位置并進(jìn)行測量。
粗糙度測量與國際標(biāo)準(zhǔn)高度相關(guān)
點(diǎn)自動(dòng)對焦式與觸針式粗糙度測量具有較高的相關(guān)性,可以獲得高度可靠的數(shù)據(jù)。
日本mitaka非接觸三維輪廓高精度測量裝置 MLP系列 規(guī)格參數(shù)
使用MLP-3,可以以亞微米精度測量整個(gè)工件的內(nèi)周和外周。
通過使用內(nèi)徑測量單元(另售),
可以評估內(nèi)周和外周之間的配合,并使用標(biāo)準(zhǔn)評估軟件“MITAKA MAP"評估與DXF數(shù)據(jù)的差異。
您不僅可以評估整個(gè)刀具的形狀,還可以使用 MLP-3 對切削刃進(jìn)行詳細(xì)測量。
通過使用立銑刀測量輔助軟件(另售)自動(dòng)檢測切削刃和刀尖,
可以通過簡單的操作進(jìn)行測量,并且可以最大限度地減少由于測量位置差異而導(dǎo)致的值變化。
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