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產(chǎn)品展示/ Product display

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  • NDS-1000日本syscom液體、固體粘彈性測(cè)量裝置流變儀

    日本syscom液體、固體粘彈性測(cè)量裝置流變儀 NDS-1000 受歡迎的類型,緊湊,輕量,價(jià)格低廉 同時(shí)評(píng)估液體、各種凝膠、薄膜和固體材料的彈性和粘度! 還可以選擇使用介電分析同時(shí)進(jìn)行 DEA-DMA 測(cè)量。

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    2024-10-13

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  • NDS-1000日本syscom薄膜/藥品等測(cè)量?jī)x彈性儀質(zhì)構(gòu)儀

    日本syscom薄膜/藥品等測(cè)量?jī)x彈性儀質(zhì)構(gòu)儀 NDS-1000 受歡迎的類型,緊湊,輕量,價(jià)格低廉 同時(shí)評(píng)估液體、各種凝膠、薄膜和固體材料的彈性和粘度! 還可以選擇使用介電分析同時(shí)進(jìn)行 DEA-DMA 測(cè)量。

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  • NDS-1000日本syscom動(dòng)態(tài)粘彈性測(cè)量裝置質(zhì)構(gòu)儀流變儀

    日本syscom動(dòng)態(tài)粘彈性測(cè)量裝置質(zhì)構(gòu)儀流變儀 NDS-1000 受歡迎的類型,緊湊,輕量,價(jià)格低廉 同時(shí)評(píng)估液體、各種凝膠、薄膜和固體材料的彈性和粘度! 還可以選擇使用介電分析同時(shí)進(jìn)行 DEA-DMA 測(cè)量。

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  • AW-1000日本katsura全視場(chǎng)波前像差測(cè)量裝置全自動(dòng)

    日本katsura全視場(chǎng)波前像差測(cè)量裝置全自動(dòng) AW-1000 這是一種可以全自動(dòng)測(cè)量鏡頭光軸上和離軸波前像差的設(shè)備。

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    2024-10-12

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  • MS-2000日本katsura自準(zhǔn)直儀角度高精度測(cè)量裝置

    日本katsura自準(zhǔn)直儀角度高精度測(cè)量裝置 MS-2000 該設(shè)備非常適合評(píng)估和檢查智能手機(jī)和其他設(shè)備中安裝的具有傳感器移位圖像穩(wěn)定功能的相機(jī)模塊執(zhí)行器。 通過使用特殊的專用目標(biāo),可以高精度地同時(shí)測(cè)量目標(biāo)物體的六項(xiàng):傾斜(θX,θY)、位移(Z)、位置(X,Y)和旋轉(zhuǎn)(θ)。

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    2024-10-12

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  • AFM-30nisshooptical鹵素光源目視檢查測(cè)量?jī)x日本

    nisshooptical鹵素光源目視檢查測(cè)量?jī)x日本 AFM-30 這是一種新型深度和高度測(cè)量裝置,結(jié)合了使用光切割的狹縫圖像觀察和使用聚光圖像的AF(自動(dòng)對(duì)焦)跟蹤。 連續(xù)跟蹤自動(dòng)對(duì)焦驅(qū)動(dòng)可實(shí)現(xiàn)快速、易于使用的測(cè)量,并具有高重復(fù)性。 由于該方法在觀察狹縫圖像投影的臺(tái)階形狀的同時(shí)進(jìn)行測(cè)量,因此可以實(shí)時(shí)識(shí)別測(cè)量屏幕上的高度,從而輕松確定需要測(cè)量的區(qū)域。

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  • AFM-30日本nisshooptical半導(dǎo)體激光器測(cè)量裝置

    日本nisshooptical半導(dǎo)體激光器測(cè)量裝置 AFM-30 這是一種新型深度和高度測(cè)量裝置,結(jié)合了使用光切割的狹縫圖像觀察和使用聚光圖像的AF(自動(dòng)對(duì)焦)跟蹤。 連續(xù)跟蹤自動(dòng)對(duì)焦驅(qū)動(dòng)可實(shí)現(xiàn)快速、易于使用的測(cè)量,并具有高重復(fù)性。 由于該方法在觀察狹縫圖像投影的臺(tái)階形狀的同時(shí)進(jìn)行測(cè)量,因此可以實(shí)時(shí)識(shí)別測(cè)量屏幕上的高度,從而輕松確定需要測(cè)量的區(qū)域。

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  • AFM-30日商精光nisshooptical光學(xué)系統(tǒng)測(cè)量深高度

    日商精光nisshooptical光學(xué)系統(tǒng)測(cè)量深高度 AFM-30 這是一種新型深度和高度測(cè)量裝置,結(jié)合了使用光切割的狹縫圖像觀察和使用聚光圖像的AF(自動(dòng)對(duì)焦)跟蹤。 連續(xù)跟蹤自動(dòng)對(duì)焦驅(qū)動(dòng)可實(shí)現(xiàn)快速、易于使用的測(cè)量,并具有高重復(fù)性。 由于該方法在觀察狹縫圖像投影的臺(tái)階形狀的同時(shí)進(jìn)行測(cè)量,因此可以實(shí)時(shí)識(shí)別測(cè)量屏幕上的高度,從而輕松確定需要測(cè)量的區(qū)域。

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